+31 (0)70 392 44 21

参观我们的位置页你最近的阿尔森位置

sales@althen.nl

参观我们的位置页你最近的阿尔森位置

l Fujifilm uv-scale

低紫外线量

L富士薄膜紫外刻度|阿尔森传感器

功能L富士胶片uv刻度

  • 低紫外线量
  • 测量范围:4至60 mJ/cm2
  • 类型:单片板卷式
  • 产品尺寸W(mm) x L(m): 270mm × 5m

结构

基膜的一侧具有UV光敏层,具有相对的侧面具有白色层。光敏层根据其接收的UV光量而改变颜色,因此通过观察光敏层和白色层附着在底座上,容易看到分布在暴露的表面上的光量。由于白色层的颜色密度对应于接收的UV光量,因此可以容易地研究光接收表面上的光量分布。

原则

微胶囊中的成色材料对紫外光发生反应并改变颜色。

  • 请跟随我们: